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Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology Vii - cover

LIBRO INGLESE

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology Vii

Christophe Perruchet (Curatore)

Bernd R. L. Siebert (Curatore)

World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2006

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Descrizione

This volume collects the refereed contributions based on the presentations made at the Seventh Workshop on Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology, a forum for metrologists, mathematicians and software engineers that will encourage a more effective synthesis of skills, capabilities and resources. The volume contains articles by world renowned metrologists and mathematicians involved in measurement science and, together with the six previous volumes in this series, constitutes an authoritative source of the mathematical, statistical and software tools necessary in modern metrology.

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Dettagli

Curatore:

Christophe Perruchet, Bernd R. L. Siebert

Editore:

World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Collana:

Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences

Anno:

2006

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

384 p.

Testo in English

EAN:

9789812566744

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