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Atom Probe Field Ion Microscopy - M. K. Miller,A. Cerezo,M. G. Hetherington - cover

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Atom Probe Field Ion Microscopy

Name: Atom Probe Field Ion Microscopy
Price: 178.67 EUR
Availability: InStock
Author: M. K. Miller
ISBN: 0198513879

di M. K. Miller (Autore)

A. Cerezo (Autore)

M. G. Hetherington (Autore)

Oxford University Press, 1996

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Descrizione

This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

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Dettagli

Autore:

M. K. Miller, A. Cerezo, M. G. Hetherington

Editore:

Oxford University Press

Collana:

Monographs on the Physics and Chemistry of Materials

Anno:

1996

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

520 p.

Testo in English

Dimensioni:

242 x 164 mm

Peso:

1042 gr.

EAN:

9780198513872

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