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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Andrei Pavlov,Manoj Sachdev - cover
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
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Descrizione


The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.
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Dettagli

Frontiers in Electronic Testing
2010
Paperback / softback
194 p.
Testo in English
235 x 155 mm
332 gr.
9789048178551
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