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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty - Smita Krishnaswamy,Igor L. Markov,John P. Hayes - cover

LIBRO INGLESE

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

Name: Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Price: 88.82 EUR
Availability: InStock
Author: Smita Krishnaswamy
ISBN: 9400797982

di Smita Krishnaswamy (Autore)

Igor L. Markov (Autore)

John P. Hayes (Autore)

Springer, 2014

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Descrizione

Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.

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Dettagli

Autore:

Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes

Editore:

Springer

Collana:

Lecture Notes in Electrical Engineering

Anno:

2014

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

124 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

2175 gr.

EAN:

9789400797987

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