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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Charles Chiang,Jamil Kawa - cover

LIBRO INGLESE

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS

Name: Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Price: 98.69 EUR
Availability: InStock
Author: Charles Chiang
ISBN: 9048173035

di Charles Chiang (Autore)

Jamil Kawa (Autore)

Springer, 2010

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Descrizione

This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

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Dettagli

Autore:

Charles Chiang, Jamil Kawa

Editore:

Springer

Collana:

Integrated Circuits and Systems

Anno:

2010

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

255 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

444 gr.

EAN:

9789048173037

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