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Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems - Alfred Crouch - cover

LIBRO INGLESE

Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems

Name: Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems
Price: 87.39 EUR
Availability: InStock
Author: Alfred Crouch
ISBN: 0130848271

di Alfred Crouch (Autore)

Pearson Education (US), 1999

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Descrizione

The purpose of this book is to introduce the basic concepts of test and design-for-test (DFT), and to then address the application of these concepts with an eye toward the trade-offs of the engineering budgets (area, frequency, power, etc.), the business drivers, and the cost drivers. This practical guide on the test and Design-for-test topics has been developed along the lines of a just what you need to know and how to do it guide that explains the topic, the trade-offs, and relates the topic to the design flow.

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Dettagli

Autore:

Alfred Crouch

Editore:

Pearson Education (US)

Anno:

1999

Rilegatura:

Mixed media product

Pagine:

384 p.

Testo in English

Dimensioni:

230 x 180 mm

Peso:

607 gr.

EAN:

9780130848277

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