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Digital Hardware Testing: Transistor-level Fault Modeling and Testing - Rochit Rajsuman - cover
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Digital Hardware Testing: Transistor-level Fault Modeling and Testing
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Digital Hardware Testing: Transistor-level Fault Modeling and Testing - Rochit Rajsuman - cover
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Descrizione


Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Dettagli

Materials Library S.
1992
Hardback
340 p.
Testo in English
229 x 152 mm
669 gr.
9780890065808
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