Libri in Inglese di Moises Padilla in Vendita | Feltrinelli

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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

J. Antonio Quiroga, Moises Padilla, Manuel Servin

Wiley-VCH 2016
- Ebook in lingua straniera
- Science, Computer & Technology
- FormatoEPUB3 con Adobe DRM
133,99 €

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