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Electrical and Thermal Characterization of MESFETs, HEMTs and HBTs - Robert Anholt - cover

LIBRO INGLESE

Electrical and Thermal Characterization of MESFETs, HEMTs and HBTs

Name: Electrical and Thermal Characterization of MESFETs, HEMTs and HBTs
Price: 140.15 EUR
Availability: InStock
Author: Robert Anholt
ISBN: 089006749X

di Robert Anholt (Autore)

Artech House Publishers, 1994

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Descrizione

This work provides a comprehensive discussion of the bias dependence of equivalent circuit parameters for the three devices and an extensive discussion of temperature dependence. It: covers recess-etched MESFETs and self-aligned MESFETs with and without lightly-doped-drains and JFETs; analyzes GaAs-based pHEMTS and InP lattice-matched HEMT equivalent circuits; and describes a large-signal, temperature-dependent model extractor for A1GaAs-GaAs HBTs. The book is intended for circuit designers, process and device developers and test engineers.

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Dettagli

Autore:

Robert Anholt

Editore:

Artech House Publishers

Collana:

Microwave Library

Anno:

1994

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

324 p.

Testo in English

Dimensioni:

229 x 152 mm

Peso:

646 gr.

EAN:

9780890067499

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