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Descrizione


The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
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Dettagli

AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications
2008
Hardback
308 p.
Testo in English
234 x 162 mm
9780735405196
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