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Failure Modes and Mechanisms in Electronic Packages - P.J. Singh,P. Viswanadham - cover
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Descrizione


With the proliferation of packaging technology, failure and reliability have become serious concerns. This invaluable reference details processes that enable detection, analysis and prevention of failures. It provides a comprehensive account of the failures of device packages, discrete component connectors, PCB carriers and PCB assemblies.
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Dettagli

1997
Hardback
370 p.
Testo in English
235 x 155 mm
1610 gr.
9780412105913
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