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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits - cover

LIBRO INGLESE

Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits

T. P. Ma (Curatore)

Paul V. Dressendorfer (Curatore)

John Wiley & Sons Inc, 1989

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Descrizione

The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Reviews the history of radiation--hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation--hardness research.

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Dettagli

Curatore:

T. P. Ma, Paul V. Dressendorfer

Editore:

John Wiley & Sons Inc

Anno:

1989

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

608 p.

Testo in English

Dimensioni:

239 x 166 mm

Peso:

1116 gr.

EAN:

9780471848936

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