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Descrizione


In this comprehensive volume an outstanding international team of investigators reports the current state of knowledge and sheds new light on a wealth of important topics. Approximately 50 contributions are included, broken down into seven main areas: Defect states; Formation and migration energies and annealing; Defects in compound semiconductors; Dislocations; Impurities; Radiation damage; Surface.
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Dettagli

1969
Hardback
500 p.
Testo in English
240 x 160 mm
9780271731391
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