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Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices - Wendong Zhang,Xing Fu,Tiekin Shi - cover

LIBRO INGLESE

Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices

Name: Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
Price: 148.24 EUR
Availability: InStock
Author: Wendong Zhang
ISBN: 1118717961

di Wendong Zhang (Autore)

Xing Fu (Autore)

Tiekin Shi (Autore)

John Wiley & Sons Inc, 2016

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Descrizione

A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices

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Dettagli

Autore:

Wendong Zhang, Xing Fu, Tiekin Shi

Editore:

John Wiley & Sons Inc

Anno:

2016

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

344 p.

Testo in English

Dimensioni:

250 x 177 mm

Peso:

670 gr.

EAN:

9781118717967

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