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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Pierre-Richard Dahoo,Philippe Pougnet,Abdelkhalak El Hami - cover

LIBRO INGLESE

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Price: 23.37 EUR
Availability: InStock
Author: Pierre-Richard Dahoo
ISBN: 1848219369

di Pierre-Richard Dahoo (Autore)

Philippe Pougnet (Autore)

Abdelkhalak El Hami (Autore)

ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016

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Descrizione

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

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Dettagli

Autore:

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami

Editore:

ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc

Anno:

2016

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

316 p.

Testo in English

Dimensioni:

241 x 167 mm

Peso:

618 gr.

EAN:

9781848219366

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