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Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition - Cheng-Chung Lee,Kai Wu,Tzu-Ling Ni - cover

LIBRO INGLESE

Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition

Name: Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition
Price: 107.21 EUR
Availability: InStock
Author: Cheng-Chung Lee
ISBN: 3659001988

di Cheng-Chung Lee (Autore)

Kai Wu (Autore)

Tzu-Ling Ni (Autore)

LAP Lambert Academic Publishing, 2012

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