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The 11 papers are unsupported by an introduction or index. They consider such aspects as the basic theory and application of variable- angle spectroscopic ellipsometry, analyzing low-dielectric-constant and copper-based films with one or more layers, optical scatter measurements and their applicatio
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Dettagli

Proceedings of SPIE
1999
Paperback
15 p.
Testo in ENG
255 x 180 mm
503 gr.
9780819432353
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