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EBOOK IN LINGUA STRANIERA

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

di Peter Baumann (Autore)

Springer Vieweg, 2019

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Descrizione

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

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Dettagli

Autore:

Peter Baumann

Anno edizione:

2019

Editore:

Springer Vieweg

Formato:

EPUB3 con Adobe DRM

Testo in Tedesco

Compatibilità:

Tutti i dispositivi (eccetto Kindle) Scopri di più

EAN:

9783658265748

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