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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices - cover

LIBRO INGLESE

Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices

Ronald D. Schrimpf (Curatore)

Daniel M. Fleetwood (Curatore)

World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004

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Descrizione

This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.

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Dettagli

Curatore:

Ronald D. Schrimpf, Daniel M. Fleetwood

Editore:

World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Collana:

Selected Topics in Electronics and Systems

Anno:

2004

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

348 p.

Testo in English

EAN:

9789812389404

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