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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices - Osamu Ueda - cover
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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices
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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices - Osamu Ueda - cover
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Descrizione


Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.
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Dettagli

Solid State Technology & Devices Library
1996
Hardback
372 p.
Testo in English
234 x 156 mm
698 gr.
9780890066522
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