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Reliability Modeling With Applications: Essays In Honor Of Professor Toshio Nakagawa On His 70th Birthday - cover

LIBRO INGLESE

Reliability Modeling With Applications: Essays In Honor Of Professor Toshio Nakagawa On His 70th Birthday

Syouji Nakamura (Curatore)

Cun Hua Qian (Curatore)

World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2014

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Descrizione

Reliability modeling has been a major concern for engineers and managers engaged in high quality system designs. This book presents the recent advancement in reliability theory and reliability engineering.Starting from maintenance policies, the book introduces reliability analysis to systems using stochastic processes to study their optimization problems. In this book, the authors will illustrate how these techniques of reliability are applied to solve optimization problems in computer, information and network systems.

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Dettagli

Curatore:

Syouji Nakamura, Cun Hua Qian

Editore:

World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

380 p.

Testo in English

EAN:

9789814571937

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