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Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors - Allan H. Johnston - cover

LIBRO INGLESE

Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors

Name: Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors
Price: 83.55 EUR
Availability: InStock
Author: Allan H. Johnston
ISBN: 981427710X

di Allan H. Johnston (Autore)

World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2010

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Descrizione

This book focuses on reliability and radiation effects in compound semiconductors, which have evolved rapidly during the last 15 years. It starts with first principles, and shows how advances in device design and manufacturing have suppressed many of the older reliability mechanisms.It is the first book that comprehensively covers reliability and radiation effects in optoelectronic as well as microelectronic devices. It contrasts reliability mechanisms of compound semiconductors with those of silicon-based devices, and shows that the reliability of many compound semiconductors has improved to the level where they can be used for ten years or more with low failure rates.

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Dettagli

Autore:

Allan H. Johnston

Editore:

World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Anno:

2010

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

376 p.

Testo in English

EAN:

9789814277105

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