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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces - Dror Sarid - cover

LIBRO INGLESE

Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces

Name: Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Price: 111.04 EUR
Availability: InStock
Author: Dror Sarid
ISBN: 019509204X

di Dror Sarid (Autore)

Oxford University Press Inc, 1994

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Descrizione

This technology has proved indispensable as a characterization tool with applications in surface physics, chemistry, materials science, bio-science, and data storage media. It has also shown great potential in areas such as the semiconductor and optical quality control industries. This revised edition updates the earlier such survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in SFM and a thoroughly revised bibliography. Academic and industrial researchers using SFM or wishing to know more about its potential, will find this book an excellent introduction to this rapidly developing field.

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Dettagli

Autore:

Dror Sarid

Editore:

Oxford University Press Inc

Collana:

Oxford Series in Optical and Imaging Sciences

Anno:

1994

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

282 p.

Testo in English

Dimensioni:

242 x 161 mm

Peso:

667 gr.

EAN:

9780195092042

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