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Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis - Nobuo Tanaka - cover

LIBRO INGLESE

Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis

Name: Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis
Price: 139.60 EUR
Availability: InStock
Author: Nobuo Tanaka
ISBN: 184816789X

di Nobuo Tanaka (Autore)

Imperial College Press, 2014

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Descrizione

The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials.

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Dettagli

Autore:

Nobuo Tanaka

Editore:

Imperial College Press

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

616 p.

Testo in English

EAN:

9781848167896

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