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Scanning Tunneling Microscopy/ Spectroscopy and Related Techniques: 12th International Conference, STM'03 - cover

LIBRO INGLESE

Scanning Tunneling Microscopy/ Spectroscopy and Related Techniques: 12th International Conference, STM'03

Paul M. Koenraad (Curatore)

Martijn Kemerink (Curatore)

American Institute of Physics, 2004

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Descrizione

At this conference the latest developments in the design, construction, and application of scanning probe microscopy like Scanning Tunneling Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) in the fields of nanotechnology, physics, chemistry, and biology were discussed.

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Dettagli

Curatore:

Paul M. Koenraad, Martijn Kemerink

Editore:

American Institute of Physics

Collana:

AIP Conference Proceedings

Anno:

2004

Rilegatura:

Mixed media product

Pagine:

197 p.

Testo in English

Dimensioni:

234 x 162 mm

Peso:

540 gr.

EAN:

9780735401686

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