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SEM Microcharacterization of Semiconductors - cover

LIBRO INGLESE

SEM Microcharacterization of Semiconductors

D. B. Holt (Curatore)

D. C. Joy (Curatore)

Elsevier Science Publishing Co Inc, 1989

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Descrizione

Applications of SEM techniques of microcharacterization have proliferated to cover every type of material and virtually every branch of science and technology. This book emphasizes the fundamental physical principles. The first section deals with the foundation of microcharacterization in electron beam instruments and the second deals with the interpretation of the information obtained in the main operating modes of a scanning electron microscope.

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Dettagli

Curatore:

D. B. Holt, D. C. Joy

Editore:

Elsevier Science Publishing Co Inc

Collana:

Techniques of Physics

Anno:

1989

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

452 p.

Testo in English

Dimensioni:

229 x 152 mm

Peso:

820 gr.

EAN:

9780123538550

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