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Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide - Harland G. Tompkins,William A. McGahan - cover

LIBRO INGLESE

Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide

Name: Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Price: 108.40 EUR
Availability: InStock
Author: Harland G. Tompkins
ISBN: 0471181722

di Harland G. Tompkins (Autore)

William A. McGahan (Autore)

John Wiley & Sons Inc, 1999

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Descrizione

While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.

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Dettagli

Autore:

Harland G. Tompkins, William A. McGahan

Editore:

John Wiley & Sons Inc

Anno:

1999

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

248 p.

Testo in English

Dimensioni:

242 x 165 mm

Peso:

546 gr.

EAN:

9780471181729

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