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Stress-Induced Phenomena in Metallization: Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization - cover

LIBRO INGLESE

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization

Name: Stress-Induced Phenomena in Metallization: Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization
Price: 146.08 EUR
Availability: InStock
ISBN: 0735402256

P. S. Ho (Curatore)

Shefford P. Baker (Curatore)

American Institute of Physics, 2005

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Descrizione

These proceedings contain new research results and advances in basic understanding of stress-induced phenomena in metallization. Papers cover results on electromigration, thermal stresses and void formation in copper-low k interconnect structures.

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Dettagli

Curatore:

P. S. Ho, Shefford P. Baker

Editore:

American Institute of Physics

Collana:

AIP Conference Proceedings

Anno:

2005

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

260 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

1280 gr.

EAN:

9780735402256

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