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LIBRO INGLESE

Stress-Induced Phenomena in Metallization: Eighth International Workshop on Stress-induced Phenomena in Metallization

Ehrenfried Zschech (Curatore)

Karen Maex (Curatore)

American Institute of Physics, 2006

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Descrizione

These proceedings present current research on issues related to stress-induced phenomena in on-chip metal interconnects and solder joints. This volume will appeal to scientists, engineers, graduate students interested in research and development of microelectronic devices as well as technology integration, and semiconductor industry professionals and equipment suppliers.

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Dettagli

Curatore:

Ehrenfried Zschech, Karen Maex

Editore:

American Institute of Physics

Collana:

AIP Conference Proceedings Stress-induced Phenomena Metallizat

Anno:

2006

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

383 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

742 gr.

EAN:

9780735403109

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