L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri
Consegna Sempre GRATIS nella Tua Libreria
Consegna Gratis in Italia su ordini online da 25€
EBOOK IN LINGUA STRANIERA
E-mail
Facebook
LinkedIn
Twitter
WhatsApp
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
(0)
Cliccando su “Conferma” dichiari che il contenuto da te inserito è conforme alle Condizioni Generali d’Uso del Sito ed alle Linee Guida sui Contenuti Vietati. Puoi rileggere e modificare e successivamente confermare il tuo contenuto. Tra poche ore lo troverai online (in caso contrario verifica la conformità del contenuto alle policy del Sito).
Grazie per la tua recensione!
Tra poche ore la vedrai online (in caso contrario verifica la conformità del testo alle nostre linee guida). Dopo la pubblicazione per te +4 punti 
121,67 €
+1220
punti 
Venditore: Feltrinelli
Acquisto online
Scaricabile subito
Articolo acquistabile con Carta del Docente
Articolo acquistabile con Carta Cultura Giovani e Carta del Merito
Dati e Statistiche
Salvato in 0 liste dei desideri
Salvato in 0 liste dei desideri
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Scaricabile subito
121,67 €
121,67 €
Scaricabile subito
Altre offerte vendute e spedite dai nostri venditori
Ebook in lingua straniera
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
Nuovo
scaricabile subito
Venduto e spedito da
Feltrinelli
scaricabile subito
Spedizione Gratis
121,67 €
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
Nuovo
scaricabile subito
Venduto e spedito da
Feltrinelli
scaricabile subito
Spedizione Gratis
121,67 €
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
Tutti i formati ed edizioni
Promo attive (0)
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
Leggi di più
Leggi di meno
Autore:
Anno edizione:
2018
Editore:
Formato:
Testo in Inglese
Compatibilità:
Tutti i dispositivi (eccetto Kindle) Scopri di più
Layout:
Reflowable
EAN:
9789811324932
Formato:
Gli eBook venduti da Feltrinelli.it sono in formato ePub e possono essere protetti da Adobe DRM. In caso di download di un file protetto da DRM si otterrà un file in formato .acs, (Adobe Content Server Message), che dovrà essere aperto tramite Adobe Digital Editions e autorizzato tramite un account Adobe, prima di poter essere letto su pc o trasferito su dispositivi compatibili.
Cloud:
Gli eBook venduti da Feltrinelli.it sono sincronizzati automaticamente su tutti i client di lettura Kobo successivamente all’acquisto. Grazie al Cloud Kobo i progressi di lettura, le note, le evidenziazioni vengono salvati e sincronizzati automaticamente su tutti i dispositivi e le APP di lettura Kobo utilizzati per la lettura.
Clicca qui per sapere come scaricare gli ebook utilizzando un pc con sistema operativo Windows
L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri
